TECHNICAL ARTICLES
電磁干擾EMI(Electromagnetic Interference),有傳導干擾和輻射干擾兩種。傳導干擾是指通過導電介質(zhì)把一個電網(wǎng)絡上的信號耦合(干擾) 到另一個電網(wǎng)絡。輻射干擾是指干擾源通過空間把其信號耦合(干擾)到另一個電網(wǎng)絡。在高速PCB及系統(tǒng)設計中,高頻信號線、集成電路的引腳、各類接插件等都可能成為具有天線特性的輻射干擾源,能發(fā)射電磁波并影響其他系統(tǒng)或本系統(tǒng)內(nèi)其他子系統(tǒng)的正常工作。EMC的測試目標是電子電器設備,而照明設備作為其中重要的一塊,自然也有相應的約束。如美國的FCC認證,歐盟的CE認證等都對LED照明設備提出了相關的測試項目。當談論到電磁干擾時,一般來講有兩種干擾源;一種是傳導干擾,主要是電子設備產(chǎn)生的干擾信號通過導電介質(zhì)或公共電源線互相產(chǎn)生干擾,LED燈具的FCC認證傳導干擾掃瞄測試頻率從0.15MHz開始至30MHz結束,CE認證中的傳導干擾掃瞄測試頻率從9KHz開始至30MHz結束。另外一種干擾是輻射干擾,主要是指電子設備產(chǎn)生的干擾信號通過空間耦合把干擾信號傳給另一個電網(wǎng)絡或電子設備,LED燈具的FCC認證空間輻射干擾掃瞄測試頻率從30MHz開始至1GHz結束,CE認證中的空間輻射干擾掃瞄測試頻率從30KHz開始至300MHz結束。在照明行業(yè)中,在測試9KHz-30MHz波段的EMI中有兩種方法,一種是采用Antenna(天線)和EMI接收機,其依據(jù)標準是CISPR15, EN55015,GB17743。對于照明燈具可能產(chǎn)生的低頻磁場設備,需要采用CISPR16-1-4規(guī)定的三環(huán)天線測量其低頻磁場輻射騷擾。主要是由三環(huán)天線和EMI接收機進行測試,測試時需在屏蔽室室內(nèi)進行。注:三環(huán)天線將X方向,Y方向和Z方向低頻磁場分量轉化為RF信號, 并通過同軸開關三個通道輸送到EMI接收機進行測量; 另外一種是采用LISN測試方法,測試時需要由EMI接收機+人工電源網(wǎng)絡-
+USN
和測試軟件進行。傳導騷擾測試系統(tǒng)用于測量燈和燈具照明設備在正常工作狀態(tài)下電源端口產(chǎn)生的騷擾,LISN實現(xiàn)RF信號的隔離,采樣,阻抗匹配,并為EUT提供電通道,EMI接收機對RF信號進行測量,并最終由EMI測試軟件進行分析,處理和判限。測試時需在屏蔽室進行。